MSDN Webcast - Windows Embedded从入门到精通系列课程(3):Windows CE 内存泄漏的检测和防止 (Level 300) 
Event ID: 1032361287
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Language(s):
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Chinese.
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Product(s):
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Mobile & Embedded Development.
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Audience(s):
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Pro Dev/Programmer.
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Duration:
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90 Minutes
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Start Date:
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Thursday, December 13, 2007 2:30 AM China
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Event Overview
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讲座内容:
很多嵌入式设备是长时间不间断运行的,即使是些微的内存泄漏(Memory Leak),也会积少成多,对嵌入式系统带来灾难性的影响。本节课介绍 Windows CE 的内存管理机制,内存泄漏的检测方法和防范手段。
课程讲师:
黄文中 Windows Embedded MVP(微软最有价值专家)
黄文中先生,北京大学理学硕士,微软嵌入式系统培训讲师(Embedded Training Instructor),微软嵌入式系统最有价值专家(MVP For Windows Embedded),微软系统工程师(MCSE)在嵌入式操作系统定制、驱动开发及应用集成方面有很深的造诣。
技术等级:
Level 300
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| Registration Options |
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Event ID:
1032361287
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